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オンリーワンのX線テクノロジーで未来を描く

"わずかな異常も見逃さない"

新しい技術やデバイスにより、さらに微細な不具合を解析可能にします。

ディテクタ傾斜や試料回転時でも着目ポイントを捉え続けるユーセントリックステージ、

高アスペクト比の試料を高倍率でCT撮影できる”3次元斜めCT”など、

”見えないを見える”化するX線解析装置をご提供します。